基本信息
| 标准名称： | 低副瓣平板裂缝天线性能近场测试方法 |
| 英文名称： | Methods of near-field measurement for planar waveguide-fed slot arrays with low sidelobes |
| 中标分类： | 化工 >> 化工综合 >> 技术管理 |
| 发布日期： | 1994-09-30 |
| 实施日期： | 1994-12-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 19页 |
适用范围
没有内容
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 化工 化工综合 技术管理