【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part21:Solderability(IEC60749-21:2011);GermanversionEN60749-21:2011
【原文标准名称】:半导体设备.机械和气候试验方法.第21部分:可焊性(IEC60749-21-2011).德文版EN60749-21-2011
【标准号】:EN60749-21-2011
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2012-01
【实施或试行日期】:2012-01-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Backwardcompatibility;Changesoftemperature;Climate;Climatictests;Components;Cyclicloading;Dimensions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environment;Environmentaltesting;Environmentaltests;Impurities;Integratedcircuits;Leadfree;Mechanicaltesting;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;Simulation;SMD;Solderability;Solderings;Surfacemounting;Temperature;Testing;Visualinspection(testing)
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:23P;A4
【正文语种】:英语
基本信息
标准名称: | 感光材料均方根颗粒度测定方法 |
英文名称: | Method for measuring the root-mean-square(RMS) granularity of photographic materials/process combination |
中标分类: |
化工 >>
信息用化学品 >>
感光材料基础标准与通用方法 |
ICS分类: |
成像技术 >>
摄影技术 >>
相纸、胶卷和暗盒
|
发布部门: | 国家技术监督局 |
发布日期: | 1989-03-22 |
实施日期: | 1989-12-01 |
首发日期: | 1989-03-22 |
作废日期: | 1900-01-01 |
主管部门: | 中国石油和化学工业协会 |
归口单位: | 全国感光材料标准化技术委员会 |
起草单位: | 化工部第一胶片厂 |
出版日期: | 1900-01-01 |
页数: | 7页 |
适用范围
本标准规定了用测微密度计扫描方法求取照相材料的均方根(RMS)颗粒度的测试方法。其目的在于提供一个正确测量的基本要求——曝光系统、密度测量系统的基本参数及要求、样品制备、测量方法及结果表示等内容。本标准适用于透明支持体的黑白和彩色连续调感光材料。本标准不适用于反射材料(各类相纸)和在支持体两面涂乳剂(如X射线胶片)的感光材料。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类: 化工 信息用化学品 感光材料基础标准与通用方法 成像技术 摄影技术 相纸 胶卷和暗盒
【英文标准名称】:TerminologyRelatingtoQualityandStatistics
【原文标准名称】:与质量和统计学相关的术语
【标准号】:ANSI/ASTME456-2006
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2006
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(ANSI)
【起草单位】:ANSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:定义;数学;质量;科学;统计学;术语;词汇
【英文主题词】:Definition;Definitions;Mathematics;Quality;Sciences;Statistics;Terminology;Vocabulary
【摘要】:
【中国标准分类号】:A00;A41
【国际标准分类号】:01_040_07;07_020
【页数】:
【正文语种】:英语